Tuolla toisessa ERS- aiheessa oli LGL:n vietissä mielenkiintoinen asiaan liittyvä linkki:
http://clientes.netvisao.pt/greenpal/evb1.htm , josta sain hieman virikettä alla olevaan pelkistettyyn ”pohdiskeluun”. Täydellisemmin kuvaan saa itse linkin teksteistä.
Kuten tunnettua, voidaan kahden vastakkaisen levyn muodostavan kondensaattorin kapasitanssi C laskea yhtälöstä
C= ε A/d, jossa ε= dielektrisyysvakio, A= kondensaattorilevyn pinta-ala ja d= levyjen välimatka.
Elektrolyyttikondensaattorin muodostavat positiivien metallianodi (useimmiten alumiinia) ja negatiivinen märkä tai puolikuiva elektrolyytti. Kytkettäessä kondensaattoriin jännite muodostuu anodille ohut eristävä oksidikerros (”dielektriteetti”
ε) ja kerroksen paksuus riippuu kondensaattoriin vaikuttavasta jännitteestä. Suuri jännite saa aikaan paksumman oksidikerroksen, eli d kasvaa, kuin pieni jännite. Näin kapasitanssi eristeen ( ja jännitteen) kasvaessa pienenee.
Elektrolyytin sähköinen vastus on sarjassa dielektriteetin muodostaman kapasitanssin kanssa ja tästä käytetään nimitystä “ESR” (Equivalent Series Resistance). Muun muassa ikä, kuivuminen ja lämpötila aiheuttavat muutoksia elektrolyytin johtavuuteen eli vastukseen, ja täten kondensaattorin kykyyn läpäistä vaihtovirtoja.
Kirjallisuudessa todetaan, että kapasitanssin mittaukseen tarkoitetut laiteet eivät välttämättä reagoi sarjavastuksen muutoksiin. Samoin kapasitanssimuutoksia voi aiheutua muistakin sysitä joten tästä ei voi päätellä ESRn arvoa. Lisäksi on huomattava, että elektrolyyttikondensaattoreita on monenlaisia. Esim. 1950-60 luvuilla tyypillinen kapasitanssin toleranssi oli -20…+50%
Terv.
Åke
**