Tässä vertailen noiden testereiden käyttämiä mittaustaajuuksia konkille ja lopussa 3 kloonin tiedot.
Nämä testerit on Open-Source-Hardware [OSH] eli saa vapaasti kopioida ja muokata.
Arvot alkaen 25pF 8 MHz mittataajuudella, 50pF 1 MHz taajuudella – aina 100milliF asti. Tarkkuus voi olla jopa 1pF 8 Mhz:llä.
Tästä taulukosta näet, että kaikkien foliokondensaattorien kapasiteetti voidaan mitata kaikilla (Mitt-vertailu 108, Nenn-capacity = nimellikapasitanssi) instrumenteillä hyvällä tarkkuudella. PeakTech LCR:n kapasiteettiarvot ja laatutekijä Q
mittari ovat mittausten minimi- ja maksimiarvot taajuusalueella 100Hz to 100kHz. Kaikissa taulukon esimerkeissä TransistorTesterin jännitehäviö Vloss on suuri, jos kondensaattoreilla on alhainen laatutekijä. Vain tässä tapauksessa kapasiteetin mittauksen erot tulokset ovat myös suuria. TransistorTester voi määrittää jännitehäviön vain, jos se mitattu kapasitanssi on yli 5000pF konkilla.
Mun toinen kapasitanssimittari käyttää seuraavia taajuuksia mittauksissa: (VC6013-mittaus.jpeg) ja tästäkin laitteesta on useita versioita maailmalla.
Noista mittausarvoista; olen laittanut taulukkoon sen arvon minkä mittari on antanut puuttumatta mitenkään siihen onko arvo relevantti ja desimaalien määrä tarpeellinen. Kuitenkin kaikissa paperieristeissä kondensaattoreissa on samansuuntainen mitta-arvon nousu joka johtuu sen rakennemuutoksesta.
ATmega328P:ssä on muistia vain 32+1+2 kByte:ä joten se varmaan rajoittaa kaikkia ohjelmahienouksia ja arvojen pyöristysoperaatioita. Tää on kuitenkin piirisarjan suurimmalla muistilla varustettu CPU.
Vertailutaulukko; jos haluat katsoa kuvaa suurempana muuta 800 -> esim 1000 tai 1200
https://adetnhugmo.cloudimg.io/v7/www.mikrocontroller.net/attachment/496540/Tabl...korjattu kirjoitusta ja otsikko